Für die Charakterisierung von Fasern, Fasersteckern und Komponenten ist die Bestimmung des Nah- und Fernfeldes mit den Einkopplungsbedingungen (launch condition) von großer Bedeutung.
Mittels des Nah- und Fernfeld-Messplatzes (Launch Condition Analyzer) kann die Entwicklung des faseroptischen Nah- zum Fernfeld bestimmt werden. Das abgestrahlte Feld des Lichtwellenleiters entwickelt sich vom Nahfeld in der Querschnittsebene des LWL zum Fernfeld hin, deren Mittelpunkt im Zentrum der abstrahlenden Fläche liegt. Das Fernfeld wird bestimmt durch die Winkelverteilung der abgestrahlten Intensität. In hoch spezifizierten Anwendungen, aber auch in der Steckerentwicklung und -charakterisierung, ist es wichtig, die korrekten Einkoppel- und Auskoppelbedingungen nach einem Faserstecker, bzw. der Faser, zu kennen. Hierzu wurden kommerzielle Systeme entwickelt, die für das Nahfeld nach IEC 61280-1-4 kompatible, nachvollziehbare Messergebnisse generieren. Das Fernfeld wird nach den Standards wie in TIA-455-177-B ermittelt. U.a. kann das Gerät auch zur Überprüfung der encircled flux Bedingungen bei 50 oder 62,5 µm Fasern eingesetzt werden.
