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MAP - Modulare Messplattform

MAP - MAP ist das Messsystem von VIAVI, entwickelt für die Industrie und den Laboreinsatz. Es gibt verschiedene Messplattformen, die sich u.a. in der Anzahl der freien Steckplätze unterscheiden. Für diese Plattformen gibt es Einschübe für die verschiedensten Messungen: so z.B. Lichtquellen, Filter oder auch optische Schalter.

MAP 2xx mit einstellbarem Filter und Laser, Powermeter, Schalter
Vollständige C und L Band-Charakterisierung mit dem mSWS System

MAP Spektral-Messgeräte

Spektralmessgeräte für das MAP System: "Swept Wavelength" Testsystem, durchstimmbare Filter, Multi-Wellenlängen-Detektor, OSA

MAP - Modulare Messplattform

Für die Spektralmessung gibt es eine Reihe von Messgeräten: eigenständige Systeme und Module für die MAP-Plattform.

  • Swept Wavelength Test System
    Testsystem für die Fertigung und Entwicklung passiver DWDM-Komponenten, ROADMs und Circuit Packs zur vollständigen Bestimmung der wellenlängenabhängigen Eigenschaften passiver optischer Komponenten.
  • Multiwellenlängen-Detektor mWave und Hi-Resolution OSA mHROSA
    In nur einem MAP-Modul kombiniert sind der Multi-Wellenlängen-Detektor und der hoch auflösende optische Spektrumanalysator mit spektraler sub-GHz Auflösung.

Für die Messung der Wellenlängen-Abhängigkeit passiver optischer Elemente mit dem MAP-System gibt es das Modul SWS - swept wavelength system. Es wird für die spektrale Vermessung optischer DWDM-Komponenten verwendet, also für ROADMs, wellenlängenselektive optische Schalter, durchstimmbare Filter oder optische Circuit Packs. Das SWS-System besteht aus 

  • durchstimmbarem Laser
  • optischen Quellen - source optical module SOM
  • Receiver-Chassis
  • Control Modul
  • Detektor-Modul
  • Anwendungs-Software

Gemessen werden damit:

  • Einfügedämpfung - IL
  • Rückflussdämpfung - RL
  • polarisationsabhängige Dämpfung - PDL
  • Direktivität

Eigenschaften des SWS Systems

  • Bis zu 8 Messstationen können an einer Basis betrieben werden
  • absolute Wellenlängengenauigkeit ± 0,002 nm
  • Bis zu 256 Detektoren pro Empfängerstation
  • Scangeschwindigkeit bis zu 40 nm/s
  • DLLs für kundenspezifische Applikationen

Multiwavelength Meter mWAVE

Das Messprinzip des Multiwellenlängen-Frequenzmessgeräts mWAVE basiert auf der kohärenten Detektionstechnik. Unerreicht ist die Frequenzauflösung für die Bestimmung des optischen Leistungspegels; ebenfalls hervorzuheben ist die Detektion der Mittenwellenlängen dicht gepackter optischer Signale mit einem Abstand von nur 2 GHz.

  • Messbereich
    erweitertes C-Band: 196,4 - 191,1 THz
    entspricht 1526,44 - 1568,77 nm

 

High-Resolution OSA - mHROSA

Eine sub-GHz Auflösung garantiert der optische Spektrumanalysator mHROSA: er vereint den Multi-Wellenlängen-Frequenzmesser WAVE mit einem hoch auflösenden optischen Spektrum-Analysator (OSA) in nur einem Modul mit einfacher Breite.

Typische Anwendungen sind die Charakterisierung von DWDM Übertragungssystemen, optischer Quellen, Transpondern und LineCards. Insbesondere sind die mHROSA geeignet, Komponenten für 10/40/100/400 G Anwendungen zu charakterisieren.

Eigenschaften

  • sub-GHz Wellenlängen-Auflösung
  • Messbereich:
    erweitertes C-Band: 196,4 - 191,1 THz
    entspricht 1526,44 - 1568,77 nm
  • Messung von Frequenz, optischem Leistungspegel und OSNR
  • Bestimmung der Seitenmoden-Unterdrückung optischer Laserquellen

Ihr Ansprechpartner

Florian Tächl

+49 (0) 8142 2864-38

f.taechl@lasercomponents.com