Kontakt

LASER COMPONENTS GmbH
Werner-von-Siemens-Str. 15
82140 Olching / Germany

Telefon: +49 (0)8142 / 28 64-0
Fax: +49 (0)8142 / 28 64-11

E-Mail: info@lasercomponents.com

Nehmen Sie Kontakt mit uns auf. Wir sind gerne für Sie da!

(Felder mit einem * sind Pflichtfelder)
Kontaktaufnahme:
Drucken
  • English
  • Deutsch
  • Français

MAP - Modulare Messplattform

MAP - MAP ist das Messsystem von VIAVI, entwickelt für die Industrie und den Laboreinsatz. Es gibt verschiedene Messplattformen, die sich u.a. in der Anzahl der freien Steckplätze unterscheiden. Für diese Plattformen gibt es Einschübe für die verschiedensten Messungen: so z.B. Lichtquellen, Filter oder auch optische Schalter.

Vollständige C und L Band-Charakterisierung mit dem mSWS System

SWS Mess-System

Wellenlängen-Abhängigkeit passiver optischer Komponenten mit dem SWS System messen.

MAP

Für die Messung der Wellenlängen-Abhängigkeit passiver optischer Elemente mit dem MAP-System gibt es das Modul SWS - swept wavelength system. Es wird für die spektrale Vermessung optischer DWDM-Komponenten verwendet, also für ROADMs, wellenlängenselektive optische Schalter, durchstimmbare Filter oder optische Circuit Packs. Das SWS-System besteht aus 

  • durchstimmbarem Laser
  • optischen Quellen - source optical module SOM
  • Receiver-Chassis
  • Control Modul
  • Detektor-Modul
  • Anwendungs-Software

Gemessen werden damit:

  • Einfügedämpfung - IL
  • Rückflussdämpfung - RL
  • polarisationsabhängige Dämpfung - PDL
  • Direktivität

Eigenschaften des SWS Systems

  • Bis zu 8 Messstationen können an einer Basis betrieben werden
  • absolute Wellenlängengenauigkeit ± 0,002 nm
  • Bis zu 256 Detektoren pro Empfängerstation
  • Scangeschwindigkeit bis zu 40 nm/s
  • DLLs für kundenspezifische Applikationen

Ihr Ansprechpartner

Florian Tächl

+49 (0) 8142 2864-38

f.taechl@lasercomponents.com