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APD à Sensibilité Renforcée dans la Gamme de Longueurs d‘Onde DUV/UV

Photonics News Numéro 16

Nouvelle Photodiode Avalanche Silicium à Structure « Reach-Through »


F16-136

Série SUR : cette nouvelle structure de photodiode avalanche (APD) silicium à sensibilité élevée dans la gamme de longueurs d‘onde DUV/UV a été développée récemment par LASER COMPONENTS.

De nombreuses applications, en particulier dans les domaines médicaux et biomédicaux exigent des détecteurs extrêmement sensibles dans la gamme du bleu et en deçà, mais jusqu‘ici il n’y avait que peu d’APD disponibles sur le marché et présentant les caractéristiques appropriées pour satisfaire les exigences de telles applications.

Grâce aux efforts de développement interne déployés, LASER COMPONENTS a réussi à développer cette nouvelle structure de photodiode avalanche avec la sensibilité et les performances de faible bruit dans le bleu, d’un niveau supérieur à n‘importe quel détecteur semblable disponible sur le marché.

La série SUR offre d‘excellentes performances en DUV. En outre, la sensibilité de cette nouvelle structure APD reste élevée plus loin dans les basses longueurs d’onde UV que tous les détecteurs actuellement commercialisés. Son fonctionnement une fois montée en boîtier est finalement limité uniquement par la transmis-sion de la fenêtre, laquelle est optimisée pour des longueurs d‘onde à partir 250 nm et au delà. Une sensibilité si élevée même pour des longueurs d‘onde en-dessous de 250 nm, rendue possible sous vide, a été réalisée avec une structure APD particulière conçue avec une couche supérieure externe ultra mince développée suivant une procédure épitaxiale unique.

De plus cette nouvelle structure APD à un niveau de bruit et une sensibilité inégalée sur la gamme de 250 nm à 1100 nm. Les tailles de ces APD vont d’un diamètre actif de 0,5 mm jusqu’à 3 mm dans un boîtier spécial optimisé pour la gamme de longueurs d‘onde UV.


Datasheet:

 SUR-Series 279 K

Manufacturer:
LASER COMPONENTS Detector Group

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