OPM-200 Optisches High-Power-Leistungsmessgerät

Flexible und präzise optische Hochgeschwindigkeits-Leistungsmessung.

OPM-200

Der Santec OPM-200 ist ein hochleistungsfähiges optisches Leistungsmessgerät, das präzise Messungen über einen dynamischen Bereich von +8 dBm bis -80 dBm ermöglicht. Es unterstützt Konfigurationen mit bis zu vier Detektoren, die entweder als Panel-Montage oder als abgesetzte Köpfe mit Kabeln von bis zu 10 Metern Länge verfügbar sind, was Flexibilität in verschiedenen Testumgebungen bietet. Die InGaAs-Detektoroption ermöglicht Messungen im Wellenlängenbereich von 840 nm bis 1700 nm, während eine Ulbrichtkugel-Option ideal für Mehrfaser-Steckverbinder oder Anwendungen mit großflächigen Strahlen ist.

Der OPM-200 verfügt über eine Hochgeschwindigkeitsabtastung mit 1 MHz und benutzerdefinierbaren Mittelungszeiten zwischen 50 µs und 1 s sowie einen gepufferten Ausgang, der bis zu 128.000 Datenpunkte speichern kann. Zusätzliche Funktionen wie externe Triggerung zur Datenerfassung und analoge Ausgänge erleichtern die nahtlose Integration in optische Ausrichtungs- oder automatisierte Fertigungsprozesse.

Anwendungen:

  • Optische Ausrichtung
  • Prüfung von Sendeempfängern
  • Laser- und Verstärkercharakterisierung
  • Transientenprüfung
  • Labor und F&E

Benefits

  • Hohe Geschwindigkeit: Mit einer Mittelungszeit von 50 μs und einer Datenaufzeichnung von 128.000 Punkten kann das OPM-200 transientes Verhalten erfassen und ist für Hochgeschwindigkeitsanwendungen geeignet.
  • Flexibilität: Die Remote-Head-Option kann mit bis zu 4 Detektoren konfiguriert werden. Mit einer Gewindebohrung ist es schnell an Ihrem Arbeitstisch befestigt.
  • Automatisierte Messungen leicht gemacht: Sie können das OPM-200 mit einfachen SCPI-Befehlen über USB- oder Ethernet-Schnittstellen programmieren. Patentierte, austauschbare SD-Detektoradapter ermöglichen eine weitere Automatisierung.

Features

  • 2-mm-InGaAs-Detektor
  • FC-, SC-, LC-, MPO- und weitere Detektoradapter
  • Wellenlängenbereich von 840 bis 1700 nm
  • +30 bis -80 dBm Leistungsbereich
  • 50 μs Mittelungszeit

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