RAPID
Florida, USA
13.-15. August, 2025
Als Gastredner auf der RAPID + TCT 2025 wird Dr. Richard Kim, Director of R&D bei der LASER COMPONENTS Detector Group eine vergleichende Studie von PbSe- und InAsSb-Photodetektoren für Anwendungen im mittleren Infrarotbereich vorstellen.
Bleiselenid (PbSe) und Indiumarsenidantimonid (InAsSb) Photodetektoren werden im mittleren Infrarotbereich für die industrielle Prozesskontrolle bei der additiven Fertigung eingesetzt. Dr. Kim wird insbesondere Aspekte wie Betriebstemperatur, Empfindlichkeit und Ansprechzeit der beiden Detektortypen vergleichen und ihre Eignung für verschiedene Anwendungen bewerten.
Die RAPID + TCT ist eine führende Messe und Konferenz für additive Fertigung und 3D-Druck, die Experten und Fachleute aus der ganzen Welt zusammenbringt, um die neuesten Entwicklungen und Innovationen zu präsentieren und zu diskutieren.
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