Im Rahmen der Miniaturisierung finden passive optische Komponenten wie Wellenleiter, Splitter oder Multiplexer zunehmend Einzug in integrierte optische Schaltungen. Mit der steigenden Komplexität gewinnt auch die Qualitätssicherung dieser Bauteile an Bedeutung. Gleichzeitig stellen sich dabei aber auch neue Herausforderungen. So kann es zum Beispiel wichtig sein, Störstellen ortsgenau aufgelöst zu bestimmen und exakt auf die verursachende Komponente zurückzuführen.
Mit dem hochauflösenden Frequenzbereichsreflektometer (OFDR) LUNA 6415 können Störungen in passiven faseroptischen Komponenten bis auf 20 µm genau lokalisiert und charakterisiert werden. Anders als bei herkömmlichen Dämpfungsmessern sind Emitter und Sensor zur Messung der Einfüge- und/oder Rückflussdämpfung im selben System untergebracht. Neben der ortsauflösenden Messung überzeugt das OFDR-Prinzip auch durch eine Auflösung von 0,1 dB und eine hohe Messgeschwindigkeit. Ein typischer Messzyklus ist bereits nach 160 ms beendet.
