Mitarbeit im Normenausschuss und Forschungsprojekten

Unsere Aktivitäten sind vielfältig. Wir achten darauf, modernste Beschichtungsverfahren einzusetzen und produzieren dielektrische Beschichtungen mit hohen ­Laserzerstörschwellen für Hochleistungslaser.

Designs nach Kundenwunsch werden mit aktuellen Software-Tools erstellt. Daraus wird die Schichtfolge abgeleitet und direkt an die Beschichtungsanlage übergeben.

Neben dem Elektronenstrahl-Verfahren haben wir plasmagestützte Verfahren im Einsatz, die sich durch geringe Drift auszeichnen: Dazu zählen sowohl die IBS- als auch die PIAD-Beschichtungen. IBS steht für Ion Beam Sputtering, PIAD für Plasma Ion Assisted Deposition. Stark sind wir aber nicht nur im Anlagenpark, der alle gängigen Verfahren abbildet, sondern auch in der Messtechnik.

Damit garantieren wir eine hohe Prozesssicherheit: die Anlagen laufen vollautomatisch, computergestützt und mit einem Online - Monitorverfahren, das die Schichtzusammensetzung während des Beschichtungsprozesses überwacht.

PLUTO+ (FKZ13N13208). Im Rahmen von PLUTO+ untersuchen wir Schichtsysteme für 2.1 µm und 2.9 µm. Im Fokus steht die Untersuchung des Plasmas und seine Wechselwirkung auf die beschichteten ­Substrate. Daraus werden prozessrelevante Plasma-Kenngrößen abgeleitet.
Zusammen mit unseren Partnern arbeiten wir an neuer Prozessdiagnostik und testen innovative Regelkonzepte für den industriellen Beschichtungsvorgang.

Nano-RuGIT (FKZ KF2638302NT4). Hier werden Pulskompressionsgitter der nächsten Generation designt. Dazu werden Beschichtungen mit hoher Laserzerstörschwelle entwickelt, hergestellt und vermessen. ­Designs für PIAD und IBS werden auch mit konzeptionell neuen Ansätzen verglichen. Zusammen mit den Kooperations­partnern werden Schicht­systeme strukturiert und hinsichtlich der Wirkung auf Kurzpulslaser geprüft.

DIN-Normenausschuss
Unser technischer Leiter Dr. Lars Mechold ist darüber hinaus Mitarbeiter im DIN-Normen­ausschuss Feinmechanik und Optik NA 027-01-18 AA. Dort werden Normen erstellt bzw. überarbeitet: unter anderem für die Messung von Zerstörschwellen.