La séparation de faisceaux à l’aide d’éléments diffractifs est avantageuse lorsqu’un élément doit produire plusieurs faisceaux, ou lorsqu’une séparation de puissance très précise est nécessaire. Un positionnement précis peut également être effectué, par exemple, afin de créer des trous à des distances clairement définies et très précises.
Les DOE suivants sont disponibles :
- Elément à points multiples
- Echantillonneur de faisceau
- Elément à focalisations multiples
Elément à points multiples
Un faisceau incident collimaté est séparé en plusieurs faisceaux à l’aide d’un élément diffractif. Ces faisceaux sont caractérisés par une intensité identique et un angle identique les uns par rapport aux autres. Des éléments unidimensionnels et bidimensionnels (1D/2D) sont disponibles. Les éléments en 1D séparent les faisceaux le long d’une ligne droite, tandis que les éléments en 2D produisent des faisceaux agencés en une matrice, comme par exemple 2 x 2 ou 3 x 3 points. Les DOEs avec spots selon un arrangement hexagonal sont nouveaux.
Echantillonneur de faisceau
Les échantillonneurs de faisceaux sont des dispositifs qui sont utilisés pour la surveillance en ligne des lasers à forte puissance. En raison de leur structure, le premier ordre de diffraction peut être ± utilisé pour la mesure de faisceaux. Leur intensité est bien inférieure à celle du faisceau principal et peut être personnalisée. Des ordres de diffraction plus élevés peuvent être utilisés pour la mesure, même avec une intensité plus faible.
Les variations d’intensité et les changements de profil du faisceau peuvent être efficacement surveillés en ligne à l’aide de ce procédé.
Elément à focalisations multiples
Grâce à cet élément diffractif, plusieurs points focaux peuvent être créés le long de son axe optique. Ces éléments sont utilisés dans les capteurs et dans le domaine ophtalmologique. Lors du traitement des matériaux, plusieurs points focaux émergeant simultanément peuvent permettre une optimisation des résultats.
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