Strahlteiler für die Laserstrahl-diagnose

Bei anspruchsvollen Lasermaterialbearbeitungsprozessen wird neben dem Hauptlaser häufig ein Pilotlaser eingesetzt. Häufig muss die Bearbeitungsebene in verschiedenen Spektralbereichen in Echtzeit beobachtet werden, um den gesamten Prozess präzise zu überwachen. Bei einigen Anwendungen ist es auch wichtig, den Laserstrahl selbst zu überwachen. Um die verschiedenen Laserwellenlängen in dieser Anwendung zu trennen und im gewünschten Verhältnis aufzuteilen, werden dichroitische Spiegel eingesetzt. 

Diese bestehen aus Schichtpaketen transparenter Einzelschichten mit abwechselnd hohem und niedrigem Brechungsindex. LASER COMPONENTS stellt diese hochwertigen Beschichtungen mittels plasmaionengestützter Abscheidung (plasma ion assisted deposition, PIAD) oder Ionenstrahlsputtern (ion beam sputtering, IBS) her. Die ultradichten Beschichtungen sind feuchtigkeitsfrei und unempfindlich gegenüber Temperaturschwankungen. Dichroitische Spiegel sind im Wellenlängenbereich von 248 nm bis 3000 nm für typische Einfallswinkel von 0° oder 45° (andere AOIs möglich) mit höchster Reflektivität und hoher Laserzerstörschwelle (laser induced damage thershold, LiDT) bei geringster thermischer Drift verfügbar.

Durch die Kontrolle des Beschichtungsprozesses können wir das Schichtdesign für Ihre Anwendung unter Berücksichtigung von Transmissions-/Reflexionsbereichen, Wellenlängen, AOI und Polarisationen maßschneidern. Wir stehen Ihnen gerne beratend zur Seite.